Descrizione
Esistono numerosi e ottimi testi che trattano la diffrazione dei raggi X e il suo uso nelle indagini strutturali. Essi però sono per lo più in lingua inglese e poco si prestano come testi didattici. Questo libro si propone di colmare tale lacuna.
Rispetto alle precedenti edizioni, sono stati apportati diversi cambiamenti: sono state eliminate alcune parti e aggiunti nuovi approfondimenti. In particolare, è stato inserito un capitolo sull’uso delle coordinate interne nella modellazione delle molecole nelle procedure di risoluzione delle strutture per tentativo, un argomento poco trattato da altri testi, anche perché, in anni recenti, ha ricevuto nuovi impulsi proprio grazie agli autori.
1. Introduzione
2. Lo stato cristallino
3. Simmetrie di punto
4. Simmetrie spaziali
5. Diffusione e diffrazione
6. Fattori di struttura e trasformate di Fourier
7. Produzione e misura delle radiazioni X
8. Tecniche a contatore per cristallo singolo
9. Tecniche fotografi che per cristallo singolo
10. Polveri cristalline
11. Deduzione della simmetria
12. Determinazioni strutturali basate sui modelli
13. I metodi diretti
14. Determinazione accurata delle strutture
15. Geometria strutturale
16. Coordinate interne
17. Polimeri cristallini
Indice analitico
